Analysis of polyaniline films using atomic force microscopy (2001)
Source: Technical digest. Conference titles: International Conference on Frontiers of Polymers and Advanced Materials. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da et al. Analysis of polyaniline films using atomic force microscopy. 2001, Anais.. Recife: Universidade Federal de Pernambuco, State University of New York, 2001. . Acesso em: 04 maio 2024.APA
Silva, M. de A. P. da, Balogh, D. T., Eiras, C., Kleinke, M. U., & Faria, R. M. (2001). Analysis of polyaniline films using atomic force microscopy. In Technical digest. Recife: Universidade Federal de Pernambuco, State University of New York.NLM
Silva M de AP da, Balogh DT, Eiras C, Kleinke MU, Faria RM. Analysis of polyaniline films using atomic force microscopy. Technical digest. 2001 ;[citado 2024 maio 04 ]Vancouver
Silva M de AP da, Balogh DT, Eiras C, Kleinke MU, Faria RM. Analysis of polyaniline films using atomic force microscopy. Technical digest. 2001 ;[citado 2024 maio 04 ]